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更新日:令和6(2024)年7月22日
ページ番号:13102
膜厚測定、濡れ性測定及び吸着量解析を1台で行うことができる装置!
認定番号第15号
レーザー光を測定対象に照射し、屈折・反射したレーザー光の強度変化を検出・解析することによって、ナノメーターレベルの膜厚測定、濡れ性測定及び吸着量解析を、1台で行うことができる薄膜測定装置です。
従来、表面性状を測定する場合、ナノメーターレベルで膜厚測定、濡れ性(疎水・親水性)測定、吸着量解析を行うには3種類の測定器を使い分ける必要がありました。本装置は、独自の光リフレクトメトリー(光偏光解析)技術により、量産型測定装置としては、初めてこれらの項目を1台で測定可能としました。
独立行政法人産業技術総合研究所光技術研究部門とマイクロテック・ニチオンが共同で開発した製品です。 同研究所光技術研究部門の特許を活用した非常に革新性の高い方式と、 当社独自のリフレクトメトリー(偏光解析)技術によって、 高性能・多項目測定と扱いやすい操作性を高い次元で実現しています。
代表者名 |
代表取締役本田周 |
---|---|
所在地 |
〒274-0074 船橋市滝台2の16の5 |
連絡先 |
電話:047-466-8186 ファックス:047-466-8190 |
事業内容 |
理化学用各種分析・計測機器の開発・製造・販売 |
主要製品 |
超高速ホモジナイザー、凍結プレス破砕装置、光計測機器 |
URL |
http://nition.com/ |
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