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主要設備（ホール係数測定装置）：産業支援技術研究所・天台庁舎

機器設備の概要、型番など

概要	本装置は、決められた試験条件に基づき、計測制御、温度制御、磁場印加を自動で行い、Van der Pauw法により比抵抗、ホール起電圧を測定し、半導体材料のキャリア濃度、キャリア移動度および温度依存性を出力します。 半導体および有機電子材料の基礎的な特性を評価するために利用します。
製造者	株式会社東陽テクニカ
型番	ResiTest8330
導入年度	1996
備考

主な仕様及び性能

機器設備の仕様など

試料印加電流出力	±1.9995ナノアンペア(0.5ピコアンペア分解能)から±101.00ミリアンペア(50マイクロアンペア分解能)
試料電圧測定レンジ	±302.9999ミリボルト(0.1マイクロボルト分解能)から±8.00000ボルト(10マイクロボルト分解能)
試料電流測定レンジ	±2.0000ナノアンペア(0.1ピコアンペア分解能)～±2.0000ミリアンペア(100ナノアンペア分解能)